HORIBA科学作为全球荧光仪器和解决方案的领导者，该公司自豪地介绍了一款革命性的新型荧光/UV-Vis光谱仪，其设计旨在解决HORIBA的新市场，即所谓的中端市场，具有更低的价格点分析荧光计。
Duetta™二合一系统无需使用多种扫描仪器。除了传统的荧光光谱和吸收光谱模式外，新系统还具有吸光度-透射光度荧光激发发射矩阵(A-TEEM)的同步特性，由于自动内部滤波效果校正，该系统提供了更好的分子指纹和扩展的动态范围。
它的超快CCD在眨眼间就能获得整个荧光光谱。有效扫描速度为51万nm/min, Duetta可以在不到一秒的时间内获得整个三维激发发射矩阵(EEM)，明显快于基于PMT的扫描台式荧光光谱仪。
标准荧光发射波长范围为250至1100 nm, Duetta还提供扩展的近红外荧光检测，远远超过传统的pmt基荧光计。
Duetta以EzSpec为特色，这是一款来自HORIBA Scientific的新软件界面，带有触摸屏实用程序，简化了使用，并选择了一些应用程序用于常规分析。
“Duetta是一种革命性的荧光分光计，代表了分析台式荧光仪器的新未来，提供更快、更好和更有信息的结果。它增加吸光度来同时收集另一个分子参数(颜色)，然后使用吸光度来提高荧光测量的可用浓度范围，大大超过传统扫描荧光计的浓度范围，”HORIBA Scientific荧光部门的全球产品线经理Cary Davies说。
“在指纹识别应用中，Duetta的实时内滤波效应校正为激励发射矩阵(EEMs)的多元分析衍生的真成分分析提供了更好的精度。我们称之为同时吸光度-透射EEM技术，A-TEEM分子指纹。结合其超快的CCD速度和一流的荧光灵敏度，Duetta荧光和吸收光谱仪真正代表了荧光的未来。”
想了解更多关于Duetta的信息，请访问:www.horiba.com/duetta