FT系列涂层分析仪在生产质量控制中起着关键作用，测量了金属加工和电子市场的广泛应用。FT110A和FT150系列为测量具有复杂几何形状的大型零件和在微小特征上测量超薄涂层提供了新的解决方案。两种仪器都是台式EDXRF(能量色散x射线荧光)分析仪，具有强大的软件和硬件设计，以提供高样品吞吐量，与质量的结果，由任何操作人员。日立高科技分析科学公司目前在北美、欧洲、中东和非洲销售和服欧洲杯线上买球务这些产品。
FT110A
FT150
轻松处理复杂样本
FT110A具有几个功能，可以测量通常难以处理的部件。大室，可以配置一个全封闭或开槽门，容纳汽车部件和装饰五金，就像它处理小紧固件一样容易。自动对焦程序允许从样品表面80毫米远的地方进行测量，非常适合测量凹坑区域或快速测量多个不同高度的部件。自动接近功能提供了一键定位，设置x射线组件在理想的距离，以重复的结果。广角相机提供了整个样品的图像，使其易于定位所需的测量位置。只需点击图像中的特征，它就会自动对齐进行分析。
测量纳米涂料
FT150采用高端组件，为精细结构提供超薄涂层的终极分析。多毛细光学将x射线束聚焦到小于20µm的直径，聚焦在样品上的强度更大，测量特征也比传统准直更小。一种高灵敏度、高分辨率的Vortex®硅漂移探测器(SDD)充分利用光学来测量微电子和半导体上的纳米尺度涂层。高精度的舞台和高清晰度相机与数字变焦允许快速定位的样本功能，以提高样本吞吐量。
日立高科技分析科学产品经理Matt Kreiner表示:“FT110A和FT150从40年XRF涂层分析仪的开发经验中获欧洲杯线上买球得灵感，利用其聪明的特性，解决了涂层分析中一些最困难的挑战。FT110A的样品处理能力和FT150的微点分析能力补充了我们全面的涂层仪器产品线，我们很高兴能为客户提供这些新的解决方案。”