SPECTRO分析仪器公司将在2018年Analytica展会A2展厅201展位展示其下一代ICP-OES和ED-XRF分析仪技术，提供先进的性能、生产力和节约。
近年来，电感耦合等离子体光学发射光谱(ICP-OES)和能量色散x射线荧光(XRF)技术都有了巨大的进步。特别是，最近升级的两款SPECTRO旗舰仪器展示了这些进步:SPECTRO ARCOS ICP-OES分析仪和SPECTRO XEPOS ED-XRF分析仪。SPECTRO将在2018 Analytica大会上展示这两款产品，同时还将介绍其新的ICP-OES分析仪软件包。
SPECTRO ARCOS高分辨率ICP-OES分析仪代表了生产力和性能的顶峰，作为第一个和唯一的光谱仪，具有快速，方便的选择轴向等离子体或径向等离子体在一个单一的仪器-没有任何光学妥协。该分析仪以较低的运行成本显著提高了灵敏度、稳定性和精度。
SPECTRO XEPOS ED-XRF光谱仪代表了ED-XRF技术的一次量子飞跃，为主、次和微量元素浓度的多元素分析提供了突破性进展。在激励和检测方面的新发展-引入了SPECTRO XEPOS分析仪-提供了出色的灵敏度和检测极限，并在精度和准确度方面获得了显著的增益。
在2018年的Analytica大会上，SPECTRO将展示其最新型号的SPECTROBLUE和SPECTRO ARCOS ICP- oes分析仪的全新SPECTRO ICP Analyzer Pro软件包。新的软件提供了一个极大的改进和更直观的用户体验，加上无与伦比的轻松和速度的快速检索和处理的结果与全面的可追溯性。
欲了解更多信息，请参加2018年Analytica展会，展位号为A2厅201。要安排任何特色SPECTRO解决方案的演示，请访问http://icp-oes.spectro.com/new-analyzer-software