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快速，自动粒度测量在非常宽的测量范围!

从FRITSCH GmbH -铣削和上浆2018年5月3

由于特别宽的测量范围0.01 - 2100 μmNanoTec光学沉淀扫描仪22是理想的，普遍适用的激光粒度仪，用于高效的干和湿的粒度分布到纳米范围的测量。ANALYSETTE 22 NanoTec非常适合粉状样品、悬浮液中的固体和乳剂的粒度分析。

你的优势:极其简单的操作，完美的测量，短的分析时间和一致的重复性和可靠的结果。以及令人信服的价格和性能的结合。

每个粒度分析的好坏取决于它的分散程度。因此，ANALYSETTE 22 NanoTec由一个紧凑的测量单元组成，可以根据测量任务快速、容易地与不同的分散模块结合进行干或湿测量。ANALYSETTE 22的不同色散模块的测量单元位于实际的墨盒中，可以用一个动作进行交换-无需更换任何软管或修改仪器!

你的优势:这使您灵活，您可以轻松地修改您的ANALYSETTE 22 NanoTec在任何时候。

ANALYSETTE 22 NanoTec软件包含了用于几乎所有典型测量任务的完全预定义的sop(标准操作程序)，使操作特别容易。通过一个排列良好的输入掩模，这些sop可以完全自由和灵活地修改，以完美地满足每个测量要求。

为完善测量结果的评价，提出了综合标准报告。一个自由编辑的报告生成器允许单独组织测量报告。图形以及所有测量参数、统计值或选定的测量值都可以包含在报告中。

你的优势:简单、安全、灵活。

请寄给我们个别的样品样品测量-我们会发给你一份详细的分析方案。比较自己!

FRITSCH粒子尺寸技术的最新信息-从静态光散射到动态图像分析www.fritsch-international.com/particle-sizing．

引用

请在你的文章、论文或报告中使用下列格式之一来引用这篇文章:

美国心理学协会
FRITSCH GmbH -铣削和上浆。(2019年5月01)。快速，自动粒度测量，测量范围极宽!AZoM。于2021年10月26日从//www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=49080检索。
MLA
FRITSCH GmbH -铣削和上浆。“在极宽的测量范围内快速、自动测量粒径!”AZoM．2021年10月26日。< //www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=49080 >。
芝加哥
FRITSCH GmbH -铣削和上浆。“在极宽的测量范围内快速、自动测量粒径!”AZoM。//www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=49080。(2021年10月26日生效)。
哈佛大学
FRITSCH GmbH -铣削和浆纱。快速，自动粒度测量在非常宽的测量范围!．viewed september 21, //www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=49080。