灵活的多传感器探头系统可用于触觉扫描、非接触检测和表面光洁度测量，5轴陶瓷桥式三坐标测量机可在所有制造环境中提供持久的性能。
由LK Metrology建造的Castle Donnington，Derbyshire，坐标测量机（CMMS）的高精度Altera范围已加上Renishaw的Revo-2扫描系统和多传感器技术，为制造商提供强大的5轴解决方案，用于检查维度的功能强大的5轴解决方案组件的精度和表面光洁度。值得注意的设计特征是CMM光束和主轴的陶瓷结构，其将最佳刚度与重量比与机械和热稳定性相结合，以实现所有制造环境的一致性。
提供前所未有的测量速度，SCANtek 5多传感器包包括Renishaw经过验证的、直观的MODUS软件，用于导入数据，控制三坐标测量机，获取结果和报告，包括GD&T(几何尺寸和公差)标签。该机器的高扫描速度提高了测量吞吐量，缩短了生产前置时间，提供了全面的产品一致性意识，并防止计量部门成为工厂的瓶颈。
Scantek 5可提供各种标准测量卷，从800 x 700 x 600 mm（8.7.6）到6,000 x 2,000 x 1,000 mm（60.20.10），选项更大。Altera.米从1.5 μ m的可重复性模型正在与ALTERA一起上市SL范围可重复性从0.7µm。LK对所有这些优质机器的长期性能非常确定，它是唯一一家提供10年精度保证的三坐标测量机制造商。
准备好立即运行它到达检查室或车间地板上，5轴CMM为用户提供了竞争优势，使新工作更容易赢得新的工作并帮助将产品提高到市场上市。相比之下，3轴测量解决方案通常无法衡量一些复杂的功能。在任何情况下，它需要恒定的加速度和减速CMM的大移动元件，而Revo-2头的旋转在扫描时与恒定速度机器运动同步，允许遵循组件几何的变化而不引入动态误差。
在不离开元件表面的情况下，以高达500毫米/秒的速度扫描，每秒可以“实时”捕捉多达4000个点的坐标，这一数据采集速度远高于使用传统探测技术可能实现的速度。它也可以包括快速，单点程序到一个测量周期。此外，无限头部定位提供的灵活性增加了有效的测量体积，最大限度地减少了头部重新定位的需要，同时允许高度复杂的测量。将reo -2扫描探针转换为一个视觉模块，进一步提高了数据采集率，结果可以与触觉方法获得的数据准确关联。
通过采用不同的尖端布置和关节，可以将详细的表面光洁度分析与单个操作中的其他CMM测量相结合，基本输出是RA，RMS和原始数据，通过标准和高级表面纹理选项提供的广泛添加。．可以检查直径下达5毫米的细孔。长达一米长的各种变化架可用于外壳传感器，探针和STYLE，以在测量序列期间启用自动交换。
MODUS软件及其用户可配置界面为创建程序提供了一个强大的平台，无论是通过教学模式，还是通过通常的图形交换格式导入的CAD模型，或直接从CATIA, Siemens NX, Parasolid, PTC Creo或Solidworks。Windows编程环境中的向导使用会话、图形和拖放方法，可以访问一系列宏和标准扫描例程，如螺旋、圆形和扫描，以确保最佳实践计量，而不需要专门的编程技能。内置绘图几何、尺寸和公差数据的本地DMIS(尺寸测量接口标准)程序可以离线模拟，在SCANtek 5上运行检测周期之前检查潜在的碰撞。
提供了丰富的文本和图形报告功能，包括系列产品的多部分检查和程序执行期间的实时报告。提供与第三方应用程序(如Excel、XML或SQL)的数据交换，以及与Q-DAS进行统计过程控制的数据交换。
LK的城堡多宁顿技术中心有SCANtek 5供客户演示使用。最近完成的两项测试涉及对气缸盖和航空发动机叶盘进行五轴和三轴扫描的比较。在以前的汽车应用中，12个阀座和导轨在3分42秒内被检查，而不是29分13秒，吞吐量增加了近7倍。的blisk由29个叶片,九个截面,八个纵向和两根每桨叶剖面扫描完成,加上一环配置文件扫描,总共2小时10.5分钟,而22小时11分钟使用硬件扫描——922%的生产力的提高。
来源:http://www.lkmetrology.com/