新的Vanta Element-S手持式X射线荧光（XRF）分析仪以实惠的价格提供快速的轻质元件检测，加入一个经济效益，入门级Vanta元素XRF仪器的家庭。S模型配备有硅漂移检测器（SDD），以分析镁（Mg），铝（Al），硅（Si），硫（S）和磷（P）中的光元素。
理想的废料回收，基本PMI，金属制造和贵金属，Vanta Element-S有效地测量黑色金属，铝，铜，不锈钢，镍和金karats。分析器提供清晰的屏幕等级ID，并在几秒钟内为光元素Mg，Al和Si进行比较。其SDD检测器可以将303个不锈钢等类似的合金等级与1100之间的铝6061或6063区分开。
为了更大的正常运行时间和可靠性，分析仪是IP54额定抵抗灰尘和湿度的额定，并建造为1.2米（4英尺）滴（MIL-STD-810G）以帮助保护偶尔下降或朝鲜。其他防护功能包括不锈钢面板和脯氨酸®与kapton的窗口®网格支撑件容易粘在上面的Toolless窗口变化并剥离。分析仪在-10℃至45°C（14°F至113°F）的温度下连续地执行温度。
Vanta Element-S分析仪具有必要的功能，Vanta™系列已知：速度，可靠性，坚固性，连接和智能手机易用性。分析仪称重2.9磅（1.32千克），达到合金和金属分析的全天测试挑战。由Olympus Proven Axon Technology™提供动力，S模型带来了与vanta系列的其余部分相同的高计数率和稳定性，用于快速效果和投资回报率。
可选的无线连接有助于为工业4.0提供未来的分析仪。连接到Olympus Scientific Cloud™以进行无线数据共享和访问方便的舰队管理工具以及奥林巴斯移动应用程序或您的网络。分析器还有一个GB MicroSD™卡来存储结果和两个USB端口以轻松导出数据。为了增加灵活性，分析仪与像Vanta田间支架，土壤，探头屏蔽和皮套等附件兼容。
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