表面计量产品线的两个新增加

延续产品创新的传统和表面计量行业的更大接受度,Polytec自豪地宣布推出新的3D光学轮廓仪产品。TopMap家族的最新成员是Micro。视图和微观。视图+。这些前沿光学轮廓仪将是理想的测量粗糙度,纹理,波纹,台阶高度和其他表面参数。

几十年来,手写笔分析器一直是评估细表面特征,例如粗糙度,质地和/或波纹的主干。对于所需表面的更完整视图的应用,或者触控笔接触的应用是不可取的,已被广泛接受使用白光干涉测量法的非接触技术。除了高(SUB)垂直分辨率之外,确定性技术还能够测量粗糙,光滑,反射,钝化和透明的表面。

此外,非接触方面与大多数材料类型兼容,例如金属,塑料,陶瓷,织物,光学等,除了提供使用3D解决方案的数控输出(RA,SA,SQ和几个)真正创造视觉直观的地块,可用于快速诊断制造问题并有效地管理流程瓶颈。Polytec专利的环境补偿技术(ECT)除了帮助自动化部分焦点的先进功能外,结果测井和大大提高易用性使得这些新的解决方案在实验室设置中或在车间上的理想选择。

50多年来,Polytec为航空航天、汽车、消费电子、生物医学、微型和纳米技术、机械工程、生产测试和其他市场提供光学测量解决方案,以使其客户的创新和技术领先。

来源:http://www.polytec.com/us/

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    Polytec。(2020年8月04)。表面计量产品线的两个新增加。AZoM。于2021年8月26日从//www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=54367检索。

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    Polytec。“表面计量产品线的两个新增加”。AZoM.2021年8月26日。< //www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=54367 >。

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    Polytec。“表面计量产品线的两个新增加”。AZoM。//www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=54367。(2021年8月26日生效)。

  • 哈佛大学

    Polytec》2020。表面计量产品线的两个新增加.viewed september 21, //www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=54367。

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