新的Hypix-ARC 100°弯曲检测器基于直接的X射线检测技术，与平面检测器相比，2θ范围更高
rigaku hypix-arc 100°弯曲的光子计数X射线检测器
Rigaku Corporation很高兴地宣布，单晶X射线衍射应用的Rigaku Hypix-Arc 100°弯曲光子计数（HPC）X射线检测器。Hypix-Arc 100°检测器是Rigaku Hypix系的最新补充，将Rigaku的弯曲HPC概念应用于较小，更敏捷的外形。它遵循了Hypix-Arc 150°检测器的早期成功，该检测器表明弯曲的检测器不仅是明智的，而且是高度可取的。该探测器首次在11月版的《晶体学时报》（Crystallography Times）中宣布，这是由Rigaku发表的电子通讯，重点介绍了单晶X射线衍射。
Rigaku由于其独特的有益特征，为其Hypix探测器采用了HPC检测器技术。HPC检测器直接计数X射线光子撞击检测器并消除了X射线中间转换为照明信号的中间转换的需求。
与平面检测器相比，Hypix-ARC 100°检测器可提供从边缘到边缘的100°角覆盖范围，并且具有17°°的捕获角度，从而可以提高速度，以快速获取完整和冗余数据。，即使在短晶体到检测器距离处，衍射梁也比平坦的几何形状更接近垂直线，从而提高了数据质量，从而可以在单个暴露中收集更多的数据，而反射曲线变形较小。根据国际晶体学（IUCR）指南，即使是CUKαX射线波长，角度覆盖范围足以收集完整的单晶衍射数据（IUCR）指南。
Hypix-ARC 100°检测器非常适合根据极低的噪声特征来测量小型和衍射样品的衍射。不需要在其他探测器中看到的黑电流或噪音，计数可以按需要持续。
在相同的条件下同时测量高角度和低角度数据，以更好地缩放，更快的数据收集和减少剂量时间。检测器面的物理大小不能指示可以测量多少数据，因为它也取决于晶体对检测器的距离，相对像素大小和点扩散函数或缺乏点功能。
HPC检测器可以更接近样品，从而导致明显的光圈大小。当光圈弯曲时，它会在水平方向上产生更大的捕获角度，并且远远超过了替代技术的平坦检测器。另一个优点是在Hypix-Arc 100°检测器中发现的直接检测，从而导致反射更清晰且更容易解决。Hypix-Arc 100°检测器可作为流行的选择Rigaku Xtalab协同作用用于单晶X射线衍射分析的X射线衍射仪的线。有关晶体学系统和Rigaku检测器的更多信息，请访问www.rigaku.com/products/crystallography。