AMRC已安装新的Bruker Alicona光学计量系统。这款在英国的全球先进制造中心的AMRC安装代表了Bruker Alicona和AMRC之间的持续伙伴关系。随着新的μCMM,公司现在有四个焦点变化光学计量系统,表明其对光学计量的承诺。
当被问及新系统时,AMRC Metrology Manager,Richard James表示“我们非常兴奋,在谢菲尔德大学先进制造研究中心(AMRC)拥有这种最先进的光学计量系统。系统的能力大大提高了我们的计量能力,测量洞中垂直墙体的能力将成为我们“单向装配”大挑战研究计划中的游戏更换者。我们与Alicona产品建立了很长时间的关系,该产品在许多研究项目中帮助了AMRC进入了现在在生产环境中的先进制造技术。我们期待将来继续与Bruker Alicona合作。“
μCM,是第一纯度光学CMM。它用于以高精度测量极其紧张的公差。用户结合了触觉坐标测量技术和光学表面测量技术的优势,只有一个传感器测量组件的尺寸,位置,形状和粗糙度。
光学CMM相互关系提供多个光学3D测量的高几何精度,从而能够测量大量组件上的小表面细节,并精确地确定这些各个测量相对于彼此的位置。
可测量表面的光谱包括所有常见的工业材料和复合材料,如塑料,PCD,CFRP,陶瓷,铬,硅。欧洲杯足球竞彩简单的操作由单键解决方案,自动化和符合专门设计的控制器等符合人体工程学控制元件实现。