Polytec宣布推出新的3D光学轮廓仪产品。TopMap家族的最新成员是Micro。视图和微观。视图+。这些前沿光学轮廓仪是理想的测量粗糙度，纹理，波纹，台阶高度，和其他表面参数。
几十年来，手写分析器一直是评估精细表面特征的主要工具，如粗糙度、纹理和/或波纹度。对于那些需要更完整的表面视图或不需要触控笔接触的应用，利用白光干涉术的非接触技术已被广泛接受。
除了高（亚纳米）垂直分辨率，确定性技术能够测量粗糙的，平滑的，反射，无光泽，和透明表面。此外，非接触的方面是与大多数材料类型，例如，金属，塑料，陶瓷，织物，光学等兼容
提供使用的3D解决方案，才能真正创建可用于快速诊断生产问题，并有效地管理流程中的瓶颈视觉上直观的图表数字输出（RA，SA，广场，还有几个）。保利达专利的环境补偿技术（ECT）除了先进的功能与自动对焦的部分，结果记录，并大大提升了易用性的使用使实验室设置或出车间这些新的解决方案的理想的帮助。
TopMap微。看法is an easy to use and compact optical profiler. Combining exceptional performance and affordability with an extended 100 mm Z measurement range and CST Continuous Scanning Technology, Micro.View measures complex topographies at nm resolution. This convenient table-top setup features integrated electronics, with the smart focus finder simplifying and speeding up the measurement procedure.
从可选ECT受益，即使在嘈杂确保可靠和准确的测量结果和具有挑战性的生产环境。
TopMap Micro.View +是专为模块化，这个全面的工作站允许定制和应用程序特定的配置。所述Micro.View +可提供表面粗糙度，纹理和微观地形的最详细的分析。与惊人可视化和扩展分析等的缺陷详细的文档的颜色信息相结合的3D数据。高分辨率5 MP摄像头可实现令人难以置信的详细设计的表面的三维数据可视化。
编码和机动炮塔确保了目标之间的无缝过渡。微。视图+features the latest Focus Finder plus Focus Tracker, keeping the surface in focus at all circumstances. The fully motorized sample positioning stages allow for stitching and automation.
50多年来，Polytec为航空航天、汽车、消费电子、生物医学、微型和纳米技术、机械工程、生产测试和其他市场提供光学测量解决方案，以使其客户的创新和技术领先。
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