新的Vanta iX在线X射线荧光(XRF)分析仪在生产线上自动进行材料分析和合金ID,为实时过程监控和100%检查提供即时结果。该分析仪设计为全天候运行,简化了金属制造和地质处理的质量检查。
金属制造需要全天候过程控制,以验证产品是否使用正确的合金制造,以避免昂贵的材料混合。Vanta iX分析仪可在几秒钟内提供清晰的材料和等级ID,因此金属制造商可以证明其产品经过100%的测试和验证。仪器可提供合格/不合格结果或全材料化学。
对于地质处理和采矿,该分析仪支持岩芯扫描和带上分析,并提供实时结果,以监测过程变化,确保矿石品位一致性。
强大的处理能力
采用硅漂移探测器(SDD)和奥林巴斯成熟的轴突技术™, 该分析仪可以测试各种合金和金属等级,包括轻元素。它带来了相同的高计数率和稳定性作为万达系列的其余部分。
智能集成
Vanta iX分析仪易于在制造环境中安装使用每侧的安装孔将分析仪安装到机器人和其他系统上。
现代数据传输
使用Vanta Connect API或PLC和离散线轻松控制分析仪。连接器选项包括以太网(RJ-45),用于以太网供电、USB、离散I/O(16针)和辅助直流电源。
坚固耐用的生产线
该分析仪经振动测试(MIL-STD-810G),防护等级IP54,可在–10°C至50°C(14°F至122°F)的温度范围内连续工作,可承受生产设施的高振动、电磁和噪声、灰尘和湿气。内置散热片降低内部温度,而风扇连接点,如果需要额外的冷却。analyzer提供无工具窗口更改以实现快速维护。
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资料来源:https://www.olympus-ims.com/en/