软件测量薄膜厚度值的薄膜反射或透射

从CRAIC技术2021年2月24日

CRAIC技术™已经开发出CRAIC FILMPRO™软件，供您与CRAIC仪器一起使用。当加入CRAIC microspectrometer时，CRAIC FilmPro™能够通过反射或透射来测量薄膜的薄膜厚度值。你可以在微米级的微观区域和许多不同的衬底上做这个。

这样不仅可以分析硅等基底上的薄膜，还可以分析平板显示器中常见的玻璃或石英上的薄膜。你会发现该软件非常容易使用和报告可以打印和保存任何计算。此外，还可以添加自动化包，从而能够自动监测样品表面的薄膜厚度变化。

CRAIC FilmPro™是专为控制您的CRAIC技术显微光谱仪，并允许您获取数据和确定薄膜的透射和反射微观区域的厚度。

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引用

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美国心理学协会
CRAIC技术。(2021年2月24日)。软件测量薄膜厚度值的薄膜反射或透射。AZoM。2021年6月28日从//www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=55630获取。
MLA
CRAIC技术。“用反射率或透射率测量薄膜厚度值的软件”。AZoM．2021年6月28日。< //www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=55630 >。
芝加哥
CRAIC技术。“用反射率或透射率测量薄膜厚度值的软件”。AZoM。//www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=55630。(访问2021年6月28日)。
哈佛大学
CRAIC技术。2021。软件测量薄膜厚度值的薄膜反射或透射．AZoM, 2021年6月28日观看，//www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=55630。