TESCAN FIB-SEM软件升级为高级3D数据采集和可视化带来了新的选项

TESCAN ORSAY HOLDING公司宣布发布其FIB-SEM断层扫描软件包的新功能,包括支持TESCAN的摇摆台和多模态、多通道采集,以及提高数据采集期间的稳定性的功能。采集完成后,可将数据导入TESCAN全新的3D体积分析软件,进行离线3D数据重建和可视化。

采用FIB-SEM层析技术对焊锡粉内部结构进行三维体积分析。图片来源:TESCAN美国公司

“在支持TESCAN的Rocking Stage(用于大电流串行切片,以减少遮挡和提高表面质量)的支持下,TESCAN的FIB-SEM断层扫描高级软件现在允许Plasma FIB-SEM用户充分利用高速铣削的优势,进行大规模3D数据采集。”TESCAN的产品经理Jiří Dluhoš说。此外,Plasma和Ga FIB-SEM用户现在都能够在不同的操作条件下获取多个数据集,例如在高束流电压下的EDS和在低束流电压下的高分辨率BSE,从而获得更全面的分析数据集。”

Ga FIB的新自动加热功能,使采集工作能够持续60多个小时,而新的Fine Autofocus功能,能够补偿Z方向的缓慢漂移,为长期数据采集提供了更好的稳定性。

随着更新的FIB-SEM断层扫描软件的发布,TESCAN宣布推出新的TESCAN 3D 体积分析软件,用于离线数据体积重建。该软件由TESCAN设计,以确保与TESCAN FIB-SEM系统无缝兼容,该软件提供了一个易于学习的3D数据导入、预处理和可视化工具,具有引导数据导入和处理工作流,以处理大量数据或多通道图像数据集。

TESCAN FIB-SEM断层扫描和TESCAN 3D体积分析软件都采用了与TESCAN Essence™GUI相同的易用性原则,提供了一个熟悉的用户界面和一步一步的指导工作流程,轻松指定数据采集和重建参数,即使是复杂的操作。

随着这些新功能和功能的发布,TESCAN继续投资于复杂的软件解决方案,使所有体验级别的用户都能更有效地工作,无论是执行常规成像和分析,还是在纳米级进行高级研究。了解更多关于TESCAN FIB-SEM断层扫描TESCAN三维体积分析软件包TESCAN的完整的FIB-SEM组合。

来源:http://www.tescan.com/

引用

请在你的文章、论文或报告中使用下列格式之一来引用这篇文章:

  • 美国心理学协会

    TESCAN USA Inc . .(2021年,06年7月)。TESCAN FIB-SEM软件升级为高级3D数据采集和可视化带来了新的选项。AZoM。2021年9月11日从//www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=56438检索。

  • MLA

    TESCAN USA Inc . .“TESCAN FIB-SEM软件升级为高级3D数据采集和可视化带来了新的选项”。AZoM.2021年9月11日。< //www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=56438 >。

  • 芝加哥

    TESCAN USA Inc . .“TESCAN FIB-SEM软件升级为高级3D数据采集和可视化带来了新的选项”。AZoM。//www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=56438。(2021年9月11日生效)。

  • 哈佛大学

    TESCAN USA Inc . .2021.TESCAN FIB-SEM软件升级为高级3D数据采集和可视化带来了新的选项.viewed September 11, //www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=56438。

告诉我们你的想法

你有评论,更新或任何你想添加到这个新闻故事吗?

离开你的反馈
提交