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Horiba科学和共价计量学展示了有关薄至厚涂层快速表征的网络研讨会

Horiba Scientific，高性能光谱系统和解决方案的全球领导者很荣幸能在12月2日星期四与共价计量学举办联合网络研讨会nd美国东部时间下午2点。

图片来源：Horiba Scientific

介绍标题为“使用脉冲RF发光放电光发射光谱法对NM薄到厚的涂层进行快速表征”，将表明该技术能够表征导电性和非导电层和非导电层以及从NM到100多微米的涂层的能力。

在审查了理论和仪器配置之后，该介绍将集中在各种应用上，包括李离子电池，能源存储，光伏，PVD，CVD和有机涂料，平台，薄和厚的氧化物，失败分析等。

注册，去：https://covalentmetrology.com/covalent_event/fast-characterization-of-nanometer-nanometer-thin-thin-thin至thick-thick-coatings-used-pulsed-rf-glow-discharge-opcharge-optical-optical-ymission-spectrometry/

Horiba Scientific与北美领先的分析服务提供商Covalent Metrology合作，扩展了工程和科学访问世界一流的专业知识和化学分析工具。除了共同主持这项网络研讨会外，共价和Horiba还在共价硅谷总部开设了Horiba Scientific Sc​​ientific示范实验室。该陈列室是霍里巴（Horiba）与北美合作伙伴的第一个示范实验室，并增加了我们在公司办公室的应用程序 /演示实验室。该实验室将展示顶级光谱解决方案，并加强公司为开发新化学分析应用方法的共同努力。随着获得Horiba的新尖端仪器的访问，共价专家团队将能够更好地为客户提供更准确，更强大的化学分析能力。

引用

请使用以下格式之一在您的论文，论文或报告中引用本文：

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    Horiba Scientific。（2021年11月17日）。Horiba科学和共价计量学展示了有关薄至厚涂层快速表征的网络研讨会。azom。于2022年4月7日从//www.wireless-io.com/news.aspx?newsid=57352检索。

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    Horiba Scientific。“ Horiba Scientific and Eovalent Metrology介绍了有关薄至厚涂层快速表征的网络研讨会”。azom。2022年4月7日。。

  • 芝加哥

    Horiba Scientific。“ Horiba Scientific and Eovalent Metrology介绍了有关薄至厚涂层快速表征的网络研讨会”。azom。//www.wireless-io.com/news.aspx?newsid=57352。（2022年4月7日访问）。

  • 哈佛大学

    Horiba Scientific。2021。Horiba科学和共价计量学展示了有关薄至厚涂层快速表征的网络研讨会。Azom，2022年4月7日，//www.wireless-io.com/news.aspx?newsid=57352。

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