JEOL的新扫描电子显微镜（SEM）回答了更快，更容易获取SEM图像和EDS数据分析的需求，尤其是适合重复操作和质量控制。
图片来源：Jeol USA，Inc。
Jeol是用于材料表征和分析的尖端电子显微镜开发的全球领导者，介绍了其最新的SEM JSM-IT510。欧洲杯足球竞彩这种新的扫描电子显微镜具有增强自动化的生产力，包括“简单的SEM”自动成像，自动蒙太奇（图像和EDS MAP）和LIVE EDS分析（Spectrum和MAP）。
IT510是流行的Jeol IT500 Intouchscope SEM的后继产品，其大型样品室和钨或LAB6细丝。IT510具有JEOL智能技术，可实现从光学成像到SEM成像，现场ED和3D分析的无缝导航，以及从Alignment到焦点的自动功能，以获取快速，清晰和清晰的图像。
新IT510的用户具有一些增强生产力的新功能：
- 新的简单SEM函数在样本上的多个位置自动化图像集合，并设置所需的各种条件，包括放大倍率和设置。简单的SEM简化并自动化工作流程以进行常规任务。
- 在观察过程中，新的“活3D”函数构建了样品表面的3D图像，显示了表面形状和深度信息。
- 信号深度自动化函数计算X射线生成深度，以支持对样品集合下样品内分析空间分辨率的理解。进行元素分析时有用。
- 一个新的低空白杂交次级电子检测器会收集电子和光子信号，从而提供具有高S/N的图像和增强的地形信息。该探测器还用带有阴极发光响应的样品支持光子成像。
- 实时映射与SEM成像同时显示元素图，这是由新的集成SEM和能量分散X射线光谱仪（EDS）系统实现的。在SEM图像观察过程中，用户可以在实时地图视图和频谱视图之间无缝切换。然后，他们可以覆盖实时SEM图像上感兴趣的元素图，以增强对试样中元素分布的理解。
- Zeromag软件无缝从样品的较大一般区域的光学图像中无缝导航到感兴趣的区域。用户永远不会丢失，可以通过单击光学图像来轻松导航到所需的观察区域。
JEOL IT510专为紧凑型平台中的高级SEM技术提供了前所未有的易用性。这款智能功能的扫描电子显微镜提供了最高水平的智能技术，其内置自动化为当今最通用的分析SEM提供。
资源：https://www.jeolusa.com/