今天,解放军的仪器™宣布Filmetrics的下一代®Profilm3D®光学分析器。新的Profilm3D和Profilm3D - 200提供额外的功能超出了当前白光干涉法(WLI)和相移干涉法(PSI),包括增强的粗糙度模式,TotalFocus™无限动态成像,和真彩色影像。
Profilm3D的新增强的粗糙度模式快速、同时解决低反射率变形Si表面和高对比度的结构和纹理铝电极导线。图片来源:解放军的工具
我激动的“新Profilm3D Filmetrics集团就能一直将新功能添加到原来的平台,同时保持工具的可访问性广泛观众的竞争价格点。”老奥斯卡·amst说,解放军的战略营销经理仪器。“通常得到这个扩大了你的表面测量功能,您将需要多个工具或者需要花更高的数量/工具。Profilm3D平台本身是相对较新的市场,然而,解放军对创新的价值和它的驱动更导致了持续改进我们的技术,使其成为增长最快的产品在我们的投资组合。我们所呈现的易用性和协作机会ProfilmOnline分析软件®使工具一个引人注目的买台式的表面计量空间”。
解放军的仪器光学分析器用于多种行业,包括太阳能和显示,复合半导体、数据存储、生物医学、汽车、航空、金属/玻璃/陶瓷制造、学术和工业研究,等等。最新一代的Filmetrics Profilm3D提供了许多优点超过其竞争对手,尤其是高质量的测量数据加上一个合理的价格,同时明确避免其他产品的典型陡峭的学习曲线。强大的一体化功能的Profilm3D意味着它满足计量要求开发工程师但流线型的设置和用户界面,技术人员可以使用快速取得成果。了解更多e链接到www.kla.com/advance/innovation/rougher-surfaces-steeper-slopes-navigating-the-high-performance-capability-of-the-new-generation-filmetrics-profilm3d
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