希登分析、先进的科学仪器,的领先供应商今天宣布四极聚焦离子束的成功应用二次离子质谱(FIB-SIMS)锂离子电池的研究。这个突破性的技术提供了无与伦比的灵敏度和分辨率低质量检测锂,大大推进锂离子电池的研究。
作为电动汽车和便携式电子设备的需求继续增长,那么需要高效和可靠的能源存储系统。锂离子电池已经成为一种很有前途的解决方案,但进一步改善性能和安全需要更深入地理解这些电池内的复杂过程。希登分析这一挑战的FIB-SIMS提供了一个强大的解决方案,使研究人员能够获得关键信息在锂电池内的分布和浓度。
这一突破性的研究已经证明“聚焦离子束和二次离子质谱的高分辨率光元素检测应用于锂离子电池”2021年8月发表在《显微镜和显微分析的问题。希登的研究展示了功能分析的FIB-SIMS检测低质量元素,如锂具有灵敏度高、精度好。
希登分析与聚焦离子束FIB-SIMS还提供无缝集成的扫描电子显微镜(FIB-SEM),为研究人员提供无数的好处,包括相关成像、原位样品制备,和3 d元素分析。FIB-SIMS和FIB-SEM允许全面了解锂离子电池微观结构,导致开发更高效、更安全的能源存储系统。
“我们很兴奋地看到我们FIB-SIMS技术的成功应用在锂离子电池的研究中,“戴恩沃克博士说,在希登分析技术营销经理。”这个突破演示了我们的承诺,推进科学研究和日益增长的能源存储市场提供先进的解决方案。”
