实时磁显微镜工具，可检测磁带篡改

国家标准与技术研究所（NIST）已经开发了一种改进的实时磁显微镜系统版本，转换磁音频和录像带篡改的证据 - 擦除，过度使用和其他改动 - 以先前可用的分辨率的四倍进行图像。该系统比传统的手动分析要快得多，并提供减少污染磁带的风险的额外益处。NIST最近将这些新能力交付给联邦调查局（FBI）作为验证作为法医工具。

早期版本的该系统使具有每英寸约400点（DPI）的分辨率的图像。www.nist.gov/public_affairs/releases/tape_analysis.htm。新系统使用4倍的磁传感器，256，嵌入在一个NIST制造的硅芯片上，该硅芯片用作改进的盒式磁带甲板中的读头。NIST读取头部与标准读取头相邻，使调查器能够在同时查看计算机监视器上的磁图案时收听磁带。定制读取头中的每个传感器在磁带上检测到的磁场模式响应电阻而改变电阻。NIST开发了机械系统，用于将胶带从其外壳中提取并通过读取头，电子界面和软件将传感器电阻措施的映射转换为数字图像。

升级包括将图像分辨率与1600 DPI的翻译为1600 DPI，能够扫描视频和录音带，完整的计算机控制磁带处理，以及直接从获取的图像向音频数字化音频的能力。该软件从磁带中显示音频磁轨道图案，以识别微小的功能，从过度记录标记到来自枪声的高强度信号。根据项目领袖David Pappas的说法，该系统旨在分析模拟磁带，但可以转换为与数字磁带合作。

新的纳米级磁性显微镜也已经通过实验使用，用于对集成电路的非破坏性评估。PAPPAS表示，通过映射集成电路跨集成电路跨越集成电路的磁场中的磁场和密度的图像，比芯片行业目前使用的单传感器扫描仪更快。