2007年7月31日
PANalytical的X 'Pert Reflectivity 1.2是该公司的一个新版本的强大软件工具，用于分析X射线反射测量数据，在薄膜生产和薄膜加工研究中非常重要。X 'Pert反射率能够自动拟合模拟的实验镜面X射线反射率曲线。这个新版本，可以启动和控制使用X 'Pert APP(自动处理程序)，提高自动化水平可能。使用三种自动拟合程序的选择，该软件执行多个模拟，以细化选定的样品和仪器参数，确保与测量数据的最佳拟合。
传统上，这种高级分析一直是专家的专利，但X 'Pert反射率包使先进的反射测量技术，甚至没有经验的用户也可以使用。作为PANalytical的X 'Pert软件范围的一部分，X 'Pert反射率是为公司的X 'Pert PRO MRD X射线衍射仪而设计的。
由于强调易用性，X 'Pert Reflectivity 1.2通过一个直观的基于windows的用户界面进行操作。一个广泛的材料数据库使用的欧洲杯足球竞彩模拟和拟合是建立在包。这包括元素原子数和质量、质量吸收和不同x射线波长的反常色散系数等信息。这个数据库是可扩展的，可以添加其他波长的新材料和值。欧洲杯足球竞彩