SemiconSoft.

SemiconOft，Inc是薄膜厚度测量仪器的首要来源。SemarConsoft提供薄膜测量系统，光学光谱工具和数据分析软件。该解决方案可用于各种应用，从桌面和原位进入在线测量。从聚合物厚度到光学涂层厚度，实际上可以快速可靠地测量1nm - 1mm厚度范围内的任何半透明材料：

• 氧化物，氮化物，半导体，光致抗蚀剂
• 薄膜太阳能电池
• 粘合剂
• LCD和触摸屏
• 薄金属
• 硬涂料
• 生物医学涂料
• 聚合物层
• 聚合物网

Semiconoft在建筑实惠，可靠且易于使用的仪器中骄傲，用于测量厚度。Semiconoft，Inc是Mprobe薄膜测量系统，等离子监测系统和TFCompanion软件的制造商 - 薄膜分析的事实上软件。