如何使用OIM分析™v8优化EBSD分析多相样品的背景?

概括

获得多相样品的良好背景可能很棘手。强度在两相之间的变化足以引起一相的过饱和和另一相的欠饱和。这可能会导致带检测和模式索引问题。需要一种不同的方法来克服这一挑战。

OIM分析中的后台处理选项^™V8现在允许用户在任何分区值上选择背景，以帮助他们从数据中获得最佳结果。对于其他索引参数（例如Hough设置）也是如此。此网络研讨会将解释如何在OIM分析中制作和使用这些背景^™v8。

扬声器

肖恩·华莱士
应用专家
EDAX

Shawn Wallace于2015年加入Edax作为专业从事EBSD的应用工程师。他在各种仪器中拥有强大的背景，包括EBSD，电子微探针，各种质谱和计算机断层扫描。在他的职业生涯中，他已经教授各级的研究人员，从帖子文档到本科，如何使用仪器，他在伊斯克斯队继续说。

肖恩在南卡罗来纳大学获得地质学硕士学位。他的研究集中于icp -质谱和地温气压测量方法的开发，以帮助更好地理解行星分化。获得学位后，肖恩在纽约市的美国自然历史博物馆担任科学助理，在那里他帮助研究太阳系的起源，使用EBSD和其他仪器，包括计算机断层扫描的3D工作。Shawn希望将这些3D技能带到快速发展的3D EBSD世界。

当肖恩不忙着跑样品的时候，人们经常能在大自然中找到他，要么徒步旅行，要么钓鱼，要么只是盯着岩石看。