EDS映射：数据收集，表示，提取和采矿

随着能量色散光谱(EDS)探测器的进步，该技术已经从单一的点-拍光谱采集技术发展到完整的x射线成像技术。在过去，数据收集的输出只是一幅图像，但现代系统具有与图像中的每个像素相关联的全光谱。这使得我们可以对光谱和图像进行大量的后处理，以找出细节，关联元素分布，并定位在和光谱中不容易看到的小贡献。

在本次网络研讨会中，我们将了解不同的显微镜设置如何在高真空和可变压力条件下影响地图输出和质量，以及通过改变这些设置可以获得什么信息。基于几个示例，我们将介绍基于原始数据计算的各种地图类型，并讨论它们之间的区别。我们还将介绍从地图中提取数据的一些不同选项，以便访问乍一看不太明显或无法访问的信息。

如果您参加此网络研讨会，您将：

• 在优化EDS映射的SEM时，进入实验参数的洞察力。
• 了解样本中的不同方式的不同方式的优势和缺点。
• 通过了解可用的后处理工具，最大限度地利用数据收集。

扬声器

Jens Rafaelsen.
应用工程师
埃克斯

Jens Rafaelsen将于2014年加入Edax，作为专业从事EDS的应用工程师。他在电子显微镜中有一个强大的背景，在SEM和EDS理论和实践中培训了许多学生和客户。他的经验包括几年作为丹麦奥尔堡大学洁净室设施的技术主管，在那里他应用了各种技术，包括SEM，FIB，CVD，PVD，PES，AFM，激光光谱和光学，电子和离子光光刻。

Jens在Aalborg大学的物理学中赢得了博士学位。他的研究专注于非线性光学测量技术，光学激散光谱和电子显微镜探测的锗表面和纳米结构。

作为一个应用工程师，延享有的位置具有通用性的报价，从培养用户第一次运行的参考样本与在该领域的专家讨论的应用和开发新技术来解决复杂的问题。他非常感兴趣的是新的应用程序，扩展了传统上使用EDS的领域，并确保用户和客户接收他们需要解决日常任务并充分利用其设备所需的培训和信息。2020欧洲杯下注官网