结合直流和交流源和测量的半导体材料/器件表征的新概念

传统上，材料/设备特性应用需要结合专门的直流和交流仪器，往往导致复杂的设置，也需要高技能的操作人员集成和操作混合品牌、计算机接口和类型的设备。2020欧洲杯下注官网这种设置通常在仪器和样本之间使用很长的电缆，随着信道计数的增加，最大限度地减少系统噪声和确保信道间定时和参考频率同步的挑战也会增加。

本次网络研讨会将探讨一种新的方法:使用高度同步的交流+直流源和测量系统，利用远程模拟模块实现最佳灵敏度和噪声抑制，以准确表征样品。用于指导从直流到100 kHz的低电平测量的仪器体系结构确保了从1到3个测量通道的固有同步数据，可以与多达3个源通道或外部参考信号协调。通过这种方式，这种新型平台高度适用于一系列研发应用，包括光传感器开发、新型光伏材料表征和低噪声晶体管测量。

参加本次网络研讨会，了解架构如何:

• 通过结合直流皮安表、电压表和交流锁相放大器的功能，消除了混合仪器设置的需要
• 最小化信号电缆的长度，从而最小化电缆的寄生(泄漏、噪声、电阻和电抗)
• 使用独特的实时采样技术，确保同步采购和测量跨多个渠道
• 使用单一和简单的触摸屏用户界面，允许更容易的设置和重新配置材料/设备特性应用程序。