半导体的光电性能受结构质量的影响较大。因此关键能够分析半导体薄膜使用技术可以解决的关键功能,如晶体结构、晶界、线程混乱和晶体极性。尽管许多技术通常采用这种效果,电子背散射衍射(EBSD)是通常利用较少,部分由于缺乏精度限制了其能力来解决个人缺陷和晶体极性。近年来一种新的方法EBSD模式索引了,利用实验和模拟之间的直接关联模式。这些模式匹配方法导致显著改善角精度,能够有效解决晶体极性和歧视之间的结晶学类似的阶段。博士在这个网络研讨会,我们将加入Aimo温克尔曼EBSD专家模式模拟和匹配方法,强调该领域的最新发展。我们将介绍先进的模式匹配功能在牛津仪器的新AZtecCrystal MapSweeper软件,我们将展示MapSweeper如何从一系列样本中提取关键信息重要性的半导体产业,包括薄膜、焊料和纳米材料。欧洲杯足球竞彩
你将学习:
- 背后的关键原则EBSD模式模拟和模式匹配
- 速度和通用的模式匹配工具已经实现AZtecCrystal MapSweeper吗
- 应用实例在一个广泛的材料与半导体行业相关欧洲杯足球竞彩
培训对象:
- 科学家参与研究半导体材料的性质欧洲杯足球竞彩
- 研究人员在半导体或电子包装行业
- 研究人员使用EBSD描述具有挑战性的材料欧洲杯足球竞彩