加入这个新的网络研讨会微观缺陷使用激光诱导击穿光谱分析电镀。
关于这个网络研讨会
电镀污染物残留或夹杂物在产品可以迅速导致显著降低产品质量,甚至失败的完整的批次。可以找到类似的污染和缺陷的产品在电子和汽车生产环境。
在这个网络研讨会Hans-Ullrich埃克特从Gerweck GmbH将LIBS技术在质量控制过程中用于快速确定缺陷的根源(污染)电镀产品。利用领域的典型例子,Hans-Ullrich将显示如何分析这些样本用显微镜结合光学显微镜和激光光谱学(LIBS)材料检测。
从下面的网络研讨会:观看一个短片
实时库
主要学习目标:
- 找到更多关于典型的表面缺陷在电镀和电子产品。
- 了解典型缺陷/污染可以快速有效地分析使用2-in1-system光学和化学显微分析。
- 如何使用激光诱导击穿光谱(LIBS)来识别污染/缺陷的根源。
关于事件的人:
Hans-Ullrich埃克特是开发过程的技术主管Gerweck GmbH是一家表面技术在布雷顿,德国。Gerweck GmbH是电子技术的领先供应商的电镀设备,特别是对选择性卷对卷电镀,并使用徕卡显微镜和一分之二LIBS系统进行样本分析。
Hans-Ullrich已经40年的工作经验在电镀领域。除了在电镀主人的资格,他还拥有工商管理硕士,是一个考试委员会成员商会的卡尔斯鲁厄。
康斯坦丁·Kartaschew持有鲁尔区波鸿大学物理化学博士学位(德国)、重点micro-spectroscopic分析。博士学位后,他扩大了他的经验,作为一个产品专家在几个分子光谱和元素光谱(如原子发射和x射线荧光光谱)的方法。2019年,他加入了徕卡微系统作为一个专家填词(激光诱导击穿光谱)和复合显微镜进一步具体应用。
康斯坦丁的角色给他机会在不同的行业与客户交流。学习他们的挑战和为他们提供实用的建议给了他伟大的工作满意度。
谁应该参加这个研讨会:
这个研讨会是适合任何工作在以下职位:质量工程师,质量经理,生产经理,生产,检验经理,检验工程师,质量控制经理,质量保证经理,质量控制成员,研发经理、研发工程师、研发成员,研发开发经理、开发经理、开发工程师、产品开发经理,实验室经理,研究员,研究科学家,实验室经理,分析实验室经理,实验室技术人员,技术人员。书你下面的地方。