晶体中缺陷和杂质的拉曼光谱和光致发光

拉曼光谱和光致发光对晶体中缺陷和杂质的存在非常敏感。由于缺陷或杂质的存在，晶体中长程平动对称性的破坏影响了拉曼光谱的移动和展宽。晶体中的杂质可以通过光致发光检测出来。对于过渡金属和镧系杂质在透明的主晶体中的存在，尤其如此。

主题包括:

• 应变和纳米晶化表现在拉曼散射中
• 通过群论和拉曼选择规则表征晶体杂质
• 过渡金属或镧系杂质的光致发光

扬声器

David Tuschel.
拉曼应用实验室经理
HORIBA科学

David Tuschel目前是HORIBA Scientific的拉曼应用经理。在此职位上，他负责为客户提供应用拉曼光谱方面的支持。David还与HORIBA的Fran Adar共同负责“分子光谱学工作台”的创作，该作品定期出现在《光谱学》杂志上。在加入HORIBA之前，David于2009年至2011年初在匹兹堡大学担任高级研究员，研究爆炸物的紫外共振拉曼光谱。2002年至2008年，他是ChemIma欧洲杯足球竞彩ge的首席材料科学家。从1985年到2002年，David在柯达担任研究科学家，在此期间，他开发了用于表征固态材料和光子/微电子器件的偏振/定向微拉曼技术。欧洲杯足球竞彩